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CV-3200/4500 系列轮廓测量仪

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商品说明
CV-3200/4500 218 系列 — 轮廓测量系统新增加的上下两面连续测量功能,增强了测力可变动功能,提高了测量效率,为您提供丰富的高精度测量。采用新型直式测臂检测器CV-3200/4500 系列是在 Z1 轴 (检出器) 上配有高精度弧形光栅尺和新型测臂的轮廓测量仪。高精度弧形光栅尺能直接读取测针的弧形轨迹,以实现高精度和高分辨力。与传统型号相比,新测臂使 Z1 轴测量范围增大了 10mm 同时减少了工件的干扰。测臂安装都采用了磁性链接件,单此接触就能完成测臂的装卸,提高了易用性。由于具备上下两面连续测量功能,使得上下两面的测量简单易行,专为 CV-4500 系列增加了以下两大特性:(1) 装配双面测针,实现垂直方向 (上下) 连续测量,所获取的数据实现简单分析以往难以测量的内螺纹有效直径。(2) 测力可在 FORMTRACEPAK 软件中设置。无需调整配重位置。
精度 (20oC)
CV-3200 系列X 轴±(0.8+0.01L)μ m L = 驱动长度 (mm)宽范围: 1.8 μ m/100mm窄范围: 1.05 μ m/25mm
Z1 轴 (检出器)±(1.6+I2HI/100)μ m H = 水平位置上的测量高度 (mm)
CV-4500 系列X 轴±(0.8+0.01L)μ m L = 驱动长度 (mm)宽范围: 1.8 μ m/100mm窄范围: 1.05 μ m/25mm
Z1 轴 (检出器)±(0.8+I2HI/100)μ m H = 水平位置上的测量高度 (mm)


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